MP-C-080 272610-058-D AC220V
G551A002MS
EF8320GOO3MS
8320G192
8320G184MS
SCG551A001MS 230/50-60, VALVE
WSEMET B320A202
EFG551H417 24VDC
8320G174
WBIS8314A300CSA
EF8344G370
35500349, G THREAD SUBBASE, 9 STATIONS, 52
一种适用于激光测距机自检的出光检测电路，包括mcuZui小系统和mcu控制电路，其特征在于：还包括光信号检测电路，所述的光信号检测电路、mcuZui小系统以及mcu控制电路依次连接，其中，光信号检测电路对激光测距机的发射模块进行实时检测，并随发射模块出光而产生相应的数字信号并反馈至mcuZui小系统，mcuZui小系统接收到数字信号后通过mcu控制电路驱动计时器开始计时；
所述光信号检测电路包括运算放大器u1、光敏二极管d1、电阻r1、电阻r2、电阻r4、电阻r5、电阻r6以及电容c1，运算放大器u1的1脚经电阻r4连接至mcuZui小系统，运算放大器u1的4脚接地，运算放大器u1的3脚经电阻r5后分为两条支路，其中一条支路经电阻r6接地，另一条支路经光敏二极管d1连接驱动电压且电阻r5与光敏二极管d1的正极直接相连，运算放大器u1的8脚连接至供电电压且运算放大器u1的8脚与2脚之间串接有电阻r2，电阻r2的两端分别与电阻r1和电容c1相连后共同接地。
2.根据权利要求1所述的一种适用于激光测距机自检的出光检测电路，其特征在于：所述mcuZui小系统采用stm32系列单片机。
3.根据权利要求2所述的一种适用于激光测距机自检的出光检测电路，其特征在于：所述mcuZui小系统的5脚和6脚共同与晶振y1相连后接地。
4.根据权利要求3所述的一种适用于激光测距机自检的出光检测电路，其特征在于：所述mcuZui小系统的5脚和6脚还分别与电容c4和电容c3相连后接地。
5.根据权利要求4所述的一种适用于激光测距机自检的出光检测电路，其特征在于：所述mcuZui小系统的7脚为复位端口，mcuZui小系统的1脚用于连接供电电压。
6.根据权利要求5所述的一种适用于激光测距机自检的出光检测电路，其特征在于：所述供电电压为+3.3v，驱动电压为+20v。
7.根据权利要求6所述的一种适用于激光测距机自检的出光检测电路，其特征在于：所述mcuZui小系统分别连接有调试接口、arm去耦电容。
8.根据权利要求7所述的一种适用于激光测距机自检的出光检测电路，其特征在于：所述运算放大器u1的型号为lm2904dr2g。
