美国 VALTEK大容量增强器 vb 3/4〞 076407.999.000 Volumebooster
美国VALTEK阀门定位器 3200MD-28-D6-E-03-40-08-0F
美国VALTEK 138114999 00 INLET 250PSIG 17BAR MAXOUTLET 150psig 10.3bar
美国VALTEK过滤减压阀
VALTEK盘根 024239.516.000
VALTEK 阀 型号： 076407.999.000
VALTEK 阀 028993.999.000
VALTEK 阀 001231.868.000
HONSBERG HD2KO1-025GM060E-SR 12112087 PN200
MOOG D664Z4793
KUBLER 8.5823.3832.1024
RELECO C4-X20FX DC220V（带底座）
BECKHOFF BK1250
ISOLOC STZE UMS5-ASF/30
IDEC RJ25-CL-D24
NORELEM 02010-10
IFM IG5505
HYDAC WS08W-01-C-N-M
MOOG D662-5073-D01HXBM4VSX0-P
AREL 型号：CR1 0.47?F+100Ω 220VAC 630VDC
HYDAC WVE-R1/4-01X
HYPERTHERM 3251
SCHUNK 371399 PGN-PIUS-50-1-AS
GUTEKUNST SPRING_D_143L_2
Transducer Techniqu OPT-TEDS
EMOTRON VFX48-010 54CEB-PAVNNNNAN
KUEBLER 8.A020.A532.1024.9001
VOITH DSG-B07112
MTS RHM0080MP011S1G6100
HEIDENHAIN 310123-03
TAS TAS-3012-220*285
在上述方面中，所述测量适配器为具有过孔结构的双面pcb板，所述pcb板的接口为正面焊盘和背面焊盘，所述正面焊盘具有均匀分布的焊盘pogopad，所述背面焊盘具有均匀分布的测试pad；所述焊盘pogopad通过过孔与测试pad连接，所述背面测试pad的形状分为正方形和圆形并在背面焊盘上交替均匀分布。
本发明具有以下有益效果：
1、该方法具有较高的普适性，能针对高速(400mbps以上)大规模(100测试通道以上)测试系统校准需求，实现测试系统各测试通道时间参数的遍历校准；
2、该装置精度较高，能够通过外接测量的方式提高本装置自身的精度；
3、该装置具有较高的自动化程度和一定的便携性，便于用在不同现场环境下测试系统校准。
附图说明
图1为本发明一种集成电路测试系统时间参数校准方法实施例中集成电路时间参数测量误差示意图；
图2为本发明一种集成电路测试系统时间参数校准方法实施例中集成电路测试系统时间参数测量误差分项量化示意图；
图3为本发明一种集成电路测试系统时间参数校准装置的装置示意图；
图4为本发明一种集成电路测试系统时间参数校准装置实施例中通道切换示意图；
图5为本发明一种集成电路测试系统时间参数校准装置的测量适配器的双面结构示意图；
图6为本发明一种集成电路测试系统时间参数校准装置的测量适配器侧剖面示意图。