集成芯片测试座，其特征在于，所述伸缩机构(5)包括转动套(51)和伸缩槽(52)，所述盖板(3)上端中心位置为凸起结构，其凸起部分外围转动连接有转动套(51)，所述盖板(3)中心位置开设有伸缩槽(52)，所述伸缩槽(52)内滑动连接有螺纹套(53)，所述螺纹套(53)底部与橡胶吸盘(4)上端固定连接。
3.根据权利要求2所述的一种集成芯片测试座，其特征在于，所述伸缩槽(52)内转动连接有螺纹杆(54)，所述螺纹杆(54)底部螺纹连接在螺纹套(53)内，所述螺纹杆(54)上端固定连接在转动套(51)内壁中心位置。
4.根据权利要求2所述的一种集成芯片测试座，其特征在于，所述螺纹套(53)外侧固定连接有一对限位块(55)，所述伸缩槽(52)侧壁且与限位块(55)相对应位置开设有限位槽(56)，所述限位块(55)滑动连接在限位槽(56)内。
5.根据权利要求1所述的一种集成芯片测试座，其特征在于，所述盖板(3)远离铰链一侧上端固定连接有拉板(31)，所述盖板(3)远离铰链一端底部且回形板(2)上端连接处均安装有磁吸块(32)。
6.根据权利要求1所述的一种集成芯片测试座，其特征在于，所述回形板(2)与检测座主体(1)之间通过四角的连接柱(21)固定连接，且两者连接处间隙外围设置有防尘网(22)。
本技术涉及集成芯片测试技术领域，尤其涉及一种集成芯片测试座。其技术方案包括：包括检测座主体和盖板，检测座主体上端中心位置开设有用于集成芯片检测的检测槽，检测座主体上方设置有回形板，盖板铰接在回形板上端中心位置开口处，盖板底部设置有橡胶吸盘，橡胶吸盘位置与检测槽中心位置对齐，盖板内设置有带动橡胶吸盘升降的伸缩机构。本技术利用伸缩机构的螺纹杆转动，可以在集成芯片位于检测槽内装配完成后，使橡胶吸盘下压对集成芯片进行限位，从而保证检测过程芯片的稳定，在取出芯片时，可以利用吸盘对芯片进行吸附，再提升取出，避免芯片在检测槽内难以徒手取出的情况。
德国JOYNER电磁阀HVRN 520 701
德国JOYNER电磁阀PN 531 701
德国JOYNER电磁阀PN 531 121
德国JOYNER电磁阀PN510 701
德国JOYNER电磁阀PN 511 701
德国JOYNER电磁阀PN 510 121
德国JOYNER电磁阀PN 520 701
德国JOYNER电磁阀PN 520 121
德国JOYNER电磁阀PN 310 701
德国JOYNER电磁阀PN 311 701
德国JOYNER电磁阀PN 310 121
德国JOYNER电磁阀PN 311 121
德国JOYNER电磁阀MNH 53 701
